O uso Simultâneo das Técnicas XPS e EXAFS no Estudo de Superfícies

Autores

  • José Eduardo Gonçalves

DOI:

https://doi.org/10.25110/akropolis.v7i27.1758

Resumo

A compreensão das propriedades física se químicas da últimas camadas atômicas dos materiais são fundamentais em vários processos tecnológicos importantes. A espectroscopia “XPS” é a principal técnica utilizada na caracterização de superfície e nos fornecem informações sobre a composição atômico da superfície, natureza e ligação dos átomos. Já a espectroscopia “EXAFS” e “XANES” , utilizando radiações síncrotron, são as principais técnicas na caracterização do bulke e nos fornecem informações sobre a estrutura local (número de coordenação, distâncias interatômics). A utilização em conjunto destas técnicas leva a informações precisas sobre a composição da superfície e do bulk para um determinado composto, esclarecendo as informações estruturais, bem como suas propriedades.

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Como Citar

Gonçalves, J. E. (2008). O uso Simultâneo das Técnicas XPS e EXAFS no Estudo de Superfícies. Akrópolis - Revista De Ciências Humanas Da UNIPAR, 7(27). https://doi.org/10.25110/akropolis.v7i27.1758

Edição

v. 7 n. 27 (1999)

Seção

Artigos

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